Документ утратил силу или отменен. Подробнее см. Справку

Раздел 7. ОБОРУДОВАНИЕ И ЕГО ЧАСТИ ДЛЯ ЯДЕРНЫХ ИСПЫТАНИЙ, А ТАКЖЕ СООТВЕТСТВУЮЩИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Раздел 7. Оборудование и его части для ядерных

испытаний, а также соответствующие технологии

7.1. Осциллографы и регистраторы переходных

процессов и специально разработанные для

них части, в том числе: сменные блоки,

внешние усилители, предусилители,

устройства для снятия сигнала и

электронно - лучевые трубки для аналоговых

осциллографов

7.1.1. Немодульные аналоговые осциллографы, 903020900

имеющие ширину полосы 1 ГГц или более

7.1.2. Модульные аналоговые осциллографические 903020900

системы, имеющие любую из следующих

характеристик:

а) основное устройство с шириной полосы

1 ГГц или более; или

б) сменные модули с индивидуальной шириной

полосы 4 ГГц или более

7.1.3. Аналоговые стробоскопические осциллографы 903020900

для исследования периодических процессов с

эффективной шириной полосы более 4 ГГц

7.1.4. Цифровые осциллографы и регистраторы 903020900

переходных процессов, использующие методы

аналого - цифрового преобразования,

способные запоминать переходные процессы

путем последовательного стробирования

одиночных входных сигналов с

последовательными интервалами менее 1 нс

(более 1 миллиона операций в секунду), с

преобразованием в цифровую форму с

разрядностью 8 бит или более и памятью 256

бит или более

Определение. "Ширина полосы" определяется как полоса частот, в пределах которой отклонение на катоде электронно - лучевой трубки не уменьшается ниже уровня 70,7 % от отклонения в максимальной точке, измеренного при подаваемом на усилитель осциллографа постоянном входном напряжении.

7.2. Фотоумножительные трубки с площадью 854020900

фотокатода более 20 кв. см, имеющие время

нарастания импульса на аноде менее 1 нс

7.3. Сверхскоростные импульсные генераторы с 854320000

напряжением на выходе более 6 В при

резистивной нагрузке менее 55 Ом и со

временем нарастания (длительности фронта)

импульса менее 500 пс (определяется как

временной интервал между 10% и 90%

амплитуды напряжения)

7.4. Технология разработки, производства или

использования оборудования и его частей

для ядерных испытаний, указанных в пунктах

7.1 - 7.3