|
Трудовые действия
|
Разработка технических решений по представленным данным о несоответствии технологического процесса и принятие решения о размещении несоответствующей партии при производстве интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Разработка технических решений по результатам анализа несоответствий при контроле вольтамперных характеристик наноразмерных приборов или дефектности на пластинах
|
|
|
Подготовка рекомендаций по устранению причин отклонения параметров готовых наноразмерных интегральных схем от проектных и внесение изменений в маршрут изготовления (при необходимости)
|
|
|
Подготовка технического заключения по поступившей рекламации на выпущенное наноразмерное изделие электроники
|
|
Необходимые умения
|
Измерять электрофизические параметры формируемых функциональных и вспомогательных наноразмерных слоев и изделий
|
|
|
Производить анализ результатов измерений электрофизических параметров формируемых функциональных и вспомогательных наноразмерных слоев и изделий
|
|
|
Производить анализ отклонений и определять причины отклонения параметров интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Работать с документацией для производства интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Работать с контрольно-измерительным оборудованием, используемым в наноэлектронике
|
|
|
Разрабатывать микромаршруты для проверки гипотез при выявлении причин возникновения отклонений параметров от границы спецификаций на изделие в партии при производстве интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Оказывать первую помощь пострадавшему на производстве
|
|
Необходимые знания
|
Культура производства и вакуумная гигиена в производстве интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Иностранный язык не ниже первого среднего уровня владения языком
|
|
|
Система менеджмента качества конкретной организации по производству интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Основные принципы разработки технологической документации и внесения изменений в нее
|
|
|
Устройство и принцип работы технологического и контрольно-измерительного оборудования для производства интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Технологические режимы оборудования для производства интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Параметры безопасности, вакуумной гигиены, чистых зон для производства интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Процедуры контроля интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Операционные, маршрутные и контрольные карты для производства интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Программы статистического анализа процессов в производстве интегральных схем с наноразмерными проектными нормами
|
|
|
Конструкция полупроводниковых приборов и физические основы их работы
|
|
|
Основы схемотехники интегральных схем
|
|
|
Физико-химические и технологические основы производственных процессов и параметров микро- и наноэлектроники
|
|
|
Основы конструкции и принципы работы оборудования для реализации базовых процессов микроэлектроники
|
|
|
Основы метрологии и принципы работы измерительного оборудования, используемого в микроэлектронике
|
|
|
Основные свойства газов, жидких химических реактивов, фоторезистивных материалов, используемых в производстве наноразмерных интегральных схем
|
|
|
Основы дизайна изделий и тестовых структур, принцип работы изделий наноэлектроники и их характеристики
|
|
|
Порядок оказания первой помощи пострадавшему на производстве
|
|
Другие характеристики
|
-
|