3.1.2. Трудовая функция

Наименование

Разработка и аттестация (самостоятельно при условии соответствующей аккредитации или во внешних аккредитованных организациях) методик измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии

Код

A/02.7

Уровень

(подуровень)

квалификации

7

Происхождение трудовой функции

Оригинал

X

Заимствовано из оригинала

Код оригинала

Регистрационный номер профессионального стандарта

Трудовые действия

Анализ потребности предприятия в методиках измерений

Разработка методики измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии

Аттестация (самостоятельно при условии соответствующей аккредитации или во внешних аккредитованных организациях) методики измерений, применяемые на предприятии

Необходимые умения

Разрабатывать требования к методикам измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии

Разрабатывать методики измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии

Исследовать показатели точности аттестуемых методик измерений

Оформлять результаты разработки и аттестации методик измерений

Необходимые знания

Параметры продукции и технологических процессов в области нанотехнологий, подлежащие измерениям

Требования к методикам измерений параметров продукции и технологических процессов, применяемых на предприятии

Нормативные и методические документы, регламентирующие разработку и аттестацию методик измерений

Физические принципы работы, область применения и принципиальные ограничения методов и средств измерений, применяемых в области нанотехнологий (растровой электронной, просвечивающей электронной, атомно-силовой, туннельной, оптической ближнего поля, магнитно-силовой, оже-электронной, ионной микроскопий; электронно-зондового рентгеноспектрального анализа, рентгенофотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии, масс-спектрометрии вторичных ионов, локального рентгенофлуоресцентного анализа, рентгенофлуоресцентного анализа с полным внешним отражением, EXAFS- и XANES-спектроскопии; электронографии, дифракции медленных электронов, малоуглового рентгеновского рассеяния, рентгеновской рефлектометрии; комбинационного рассеяния света, эллипсометрии, динамического светорассеяния, люминесцентной спектроскопии, ИК-фурье-спектроскопии) и необходимых предприятию

Методы оценки результатов измерений

Другие характеристики

Ответственность за результат выполнения собственных работ

Деятельность, направленная на решение типовых задач технологического характера